SJ/T 10740-1996 半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理
作者:标准资料网 时间:2024-05-01 06:20:38 浏览:9065
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理 |
| 英文名称： | Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for bipolar random access memories |
| 中标分类： |
化工 >>
化工综合 >>
技术管理 |
| 替代情况： | 原标准号GB 3444-82 |
| 发布日期： | 1996-11-20 |
| 实施日期： | 1997-01-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2010-01-20 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 33页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 化工 化工综合 技术管理
基本信息
| 标准名称： | 无焊连接 第4部分：不可接触无焊绝缘位移连接一般要求、试验方法和使用导则 |
| 英文名称： | Solderless connections—Part 4:Solderless non-accessible insulation displacement connections—General requirements,test methods and practical guidance |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
电子元件 >>
安装、接线连接件 |
| ICS分类： |
电气工程 >>
电工器件 >>
连接装置
|
| 发布部门： | 国家质量技术监督局 |
| 发布日期： | 2000-01-02 |
| 实施日期： | 2001-07-01 |
| 首发日期： | 2000-12-28 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国电子设备用机电件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 信息产业部电子工业标准化研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-17 |
| 页数： | 平装16开， 页数：26， 字数：47千字 |
| 书号： | 155066.1-17739 |
适用范围
本标准适用于按第三篇进行试验和测量时是不可接触的ID连接，而且这种连接是：——设计合适的ID接端；——具有实心圆导体（标称直径为0.25mm至3.6mm）的导线；——具有绞合导体（截面0.05mm2至10mm2）的导线。这种连接用于通信设备或采用类似技术的电子设备中。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元件 安装 接线连接件 电气工程 电工器件 连接装置
